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SEL@KIT
著者: 吉坂 圭一 / Keiichi Yoshisaka
  • 研究期間: 2010 - 2014
  • 総文献数: 3
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文献一覧
2014
学術論文誌(査読付)

[1] Eun-Hye Choi, Hideaki Nishihara, Takahiro Ando, Nguyen Van Tang, Masahiro Aoki, Keiichi Yoshisaka, Osamu Mizuno, and Hitoshi Osaki, "Formal Specification based Automatic Test Generation for Embedded Network Systems", Journal of Applied Mathematics, 2014(Article ID 909762),  21pages, May 2014.

2011
テクニカルレポート

[1] Eun-Hye Choi, Takahiro Ando, Hideaki Nishihara, Masahiro Aoki, Keiichi Yoshisaka, Takao Sonoda, Shouichi Hasuike, and Osamu Mizuno, "SENS - Specification Language for Embedded Network Systems - toward Automatic Test Generation (Preliminary Version)",    Collaborative Research Team for Verification and Specification, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 2011.

2010
研究会・全国大会等

[1] 崔 銀惠, 尾崎 弘幸, 中原 早生, 木下 佳樹, 青木 祐浩, 吉坂 圭一, 三根 博史, 清水 徹, "組込みネットワークシステムの形式モデル指向テストに向けて", ソフトウェア信頼性研究会第6回ワークショップ(FORCE2010)論文集, pp. 4--17, 2010年.

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